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【飞纳三点半】第 71 期直播通知:如何选择合适的制样设备?

来源:复纳科学仪器(上海)有限公司      分类:成果 2023-11-21 09:47:35 17阅读次数


November 22nd

Technoorg Linda


 


飞纳三点半



- 第71期 -


离子研磨仪

离子精修仪

离子减薄仪




离子研磨系统可以无应力的去除样品表面层

为扫描电子显微镜的样品制备

提供了最为有效的解决方案



SEM 样品常用到的离子研磨法

有截面研磨和平面抛光两种

离子束剖面切削

适合制备 SEM / EBSD 成像和微量分析的

不同质量构成的固态材料的平面横截面


 离子束剖面切削处理后的样品 


离子束表面抛光

适合制备电子背散射衍射分析(EBSD)

和定向成像显微分析法(OIM)的样品


 离子束表面抛光处理后的样品 



离子精修仪是专门为

最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计

非常适合快速减薄凹坑或超薄平面的样品

Gentle Mill 对在各种 FIB 制备的样品

进行低能量 Ar+ (氩离子)研磨

可以显著降低受损的非晶表面层的厚度


 使用 Gentle Mill 实现对 65nm 节点半导体器件进行原子级结构分析 



离子减薄仪是专门为

快速地制备具备高减薄率的

高质量的 TEM / XTEM 样品而设计

既可以使用超高能离子枪进行快速研磨

又可以使用低能量离子枪进行抛光和精修处理


001 GaN 平面视角样品的 TEM 图像。使用高能离子枪研磨后,样品通过 300 eV 的低能离子枪进行精细处理。


PART 01

直播通知


作为 SEM / TEM / FIB 制样设备

到底该如何选择?

机械研磨和离子研磨效果有什么不同?

针对不同类型的样品

需要重点关注哪些参数?

本期【飞纳三点半】

上海体验中心专业的应用工程师

以铜箔、光伏样品为例

一起为大家展示使用离子研磨仪处理后样品

和未进行离子研磨处理的样品

在电镜下有什么不同

一起来选择适合您样品的制样设备吧




PART 02

直播福利


直播将有 3 波不定期福利,参与直播间互动,有机会获得精美礼品一份。



注:参加活动必须关注视频号,具体活动方式将在直播间公布,请持续关注;本次活动最终解释权归所有。



每周三的三点半

视频号

为您准时直播最新最有趣的实时测试

也可以为您解答扫描电镜的相关疑问

让科学走进生活

认识微观世界变得如此简单

如果您有希望直播的主题

可以添加我们的【直播群助手】

告诉我们

本周三的下午三点半

视频号直播间

我们不见不散


直播群助手


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最近更新:2023-09-18 16:20:36
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