医疗器械网(120med.com)欢迎您!

| 登录 注册
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品库- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-直播- 视频-课程

资讯中心

当前位置:医疗器械网> 资讯中心>网络研讨会 | 微区XRF释放SEM在元素分析中的全部潜力

网络研讨会 | 微区XRF释放SEM在元素分析中的全部潜力

来源:布鲁克纳米分析部      分类:招商 2024-01-12 16:30:04 0阅读次数


在配备了EDS探测器的扫描电子显微镜(SEM)中添加一台微区XRF为您的元素分析工作提供了新的可能性。并探索这项技术在各种领域中的应用案例。

 

使用微区XRF光源使用户能够克服传统EDS的限制,实现小至10ppm的痕量元素检测、膜厚分析和高能x射线线系的检测。此外,使用微区XRF光源分析时所样品几乎无需制备,不仅如此样品形状也可以不规则或比常规SEM观察尺度大一些。这些可能性将您的SEM转变为更全面的元素分析系统。

 

我们的微区XRF光源XTrace 2配备强大的50W微焦点X射线毛细光管(35或10μm光阑),并具有自动光源撤回模式、光圈管理系统(AMS)和Flexispot Mode等功能,这意味着现在可以在微米尺度上分析大尺寸样品。

 

在本次网络研讨会中,我们将介绍基于SEM的微区XRF以及它如何通过新的分析能力拓展您分析流程。


期待您的参与!


图1. 欧元硬币中Ni、Cu和Zn的元素强度图清楚地表明了硬币中不同区域的成分差异。

 


图2. 对钻石勘探项目中的颗粒进行分析。这些颗粒是榴辉石榴石和单斜辉石,直接使用原石测量,无需制备样品。


图3. PCB 电子元件的大面积元素面,突出显示关键元素在复杂形貌表面上的分布。


会议时间

2024年1月30日,下午5:00


报名入口






主讲人


Stephan Boehm

Product Manager micro-XRF on SEM and WDS, 

Bruker Nano Analytics



Dr. Andrew Menzies

Senior Application Scientist - Geology and Mining, Bruker Nano Analytics







关于

布鲁克的电子显微镜分析仪包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微区XRF,它们为目前可用的材料提供了最全面的成分和结构分析。同时提供微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)以及用于微量元素分析的台式全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF)。


长按关注

www.bruker.com

info.bna.cn@bruker.com




参与评论

全部评论(0条)

获取验证码
我已经阅读并接受《医疗器械网服务协议》

推荐阅读

版权与免责声明

①本文由医疗器械网入驻的作者或注册的会员撰写并发布,观点仅代表作者本人,不代表医疗器械网立场。若内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们立即通知作者,并马上删除。

②凡本网注明"来源:医疗器械网"的所有作品,版权均属于医疗器械网,转载时须经本网同意,并请注明医疗器械网(www.120med.com)。

③本网转载并注明来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。

④若本站内容侵犯到您的合法权益,请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱:hezou_yiqi

关于作者

作者简介:[详细]
最近更新:2023-09-18 16:20:36
关注 私信
更多

最新话题

最新资讯

作者榜