政策

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  直播 | 探索前沿半导体器件的PFIB自动化大面积逐层剥离和原位纳米探针技术

  2024年6月12日15:00直播，深入探讨自动化大面积PFIB逐层剥离和原位纳米探针检测的创新方法。

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  更新时间：2024-05-29 09:30:14  游览次数：0

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  直播 | 精细制样，雷利表征：TESCAN 高电流 PFIB-SEM 技术

  6月4日下午3点，本次网络研讨会与您深入探讨材料表征效率问题。

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  更新时间：2024-05-24 10:45:12  游览次数：1

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  用户福利 | 2024年第三期扫描电镜高阶应用线上培训

  2024.04.19，TESCAN诚邀您参加TESCAN CLARA 场发射扫描电镜高阶应用培训。

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  更新时间：2024-04-07 10:45:08  游览次数：0